Форум iHDD.RU

[Gennadiy]

Ув.Гуру по SMART !!! Помогите пожалуйста разобраться с несколькими пустяковыми(для Вас)
вопросами.

Вопросы возникли у меня вследствие сообщения моего BIOS,что SMART у меня отключен.И в опциях BIOS отсутствовала возможность управления состоянием SMART(я так думал)
Но как подсказал Ув.TheDrive я просто поленился прочесть инструкцию к своей матери. Спасибо ему. В BIOS-е всё есть Но положительным моментом было то,что я заинтересовался самой технологией SMART (и кое-что даже почитал – как ни странно для меня самого).
Ну и как обычно(для меня) многого не понял.
Вопросы:
1) Правильно ли я понимаю,что атрибуты SMART в принципе не зависят от тестов Data Collection,Short Self-test,Extended Self-test( и некоторых других).Точнее. в результате этих тестов значения атрибутов могут измениться(как и в процессе работы) ,а могут и не измениться.Т.е (ИМХО) накопитель самостоятельно в процессе работы отслеживает определённые параметры ( количество переназначенных секторов,время позиционирования БМГ,различные ошибки чтения и записи и другое).Далее заносит с определённой частотой
(vendor specification) ,или по определённым событиям данные контроля в энергонезависимые области и на основании этих данных и (vendor specification) алгоритмов вычисляет нормализованные значения атрибутов(или сохраняет ненормализованные –Raw).
К чему это я говорю – если это так,то по идее накопитель должен без всяких Self-test сообщать о проблемах SMART(что наверное часто и происходит при сообщениях BIOS о проблемах SMART-я к счастью ни одного сообщения не видел).
2) Если мои рассуждения верны(что вряд ли), то для чего тогда нужны внутренние тесты накопителей - Data Collection,Short Self-test,Extended Self-test( и некоторые другие).?
3) Какие конкретно действия выполняет каждый тест?
4) SMART Data Collection переводится(ИМХО) – Сбор SMART данных. Так это тест или действительно сбор данных(и каких) SMART?
5) В некоторых статьях в Инете читал,что различные винты(WD,Maxtor и др.) помимо тестов SMART проводят и свои собственные тесты и даже прозрачно для пользователя переназначают дефектные сектора.(Вроде бы для WD эти тесты запускаются самостоятельно винтом в off-line режие через каждые 8 часов после проведения последнего теста). Значит ли это ,что обладателю достаточно нового WD не надо проводить вообще никаких тестов- за него всё уже сделал накопитель? Запуская утилитами от WD(под Windows) короткие и быстрые тесты,я запускаю те же тесты, что и в MHDD командой scan test,или запускаются совершенно различные тесты?
6) Каково назначение команды стандартов ATA3-ATA6 (обязательной для этих стандартов если я правильно перевел конечно) SMART Enable/Disable Attribute Autosave.
Т.е.если у винта -SMART Enable,тогда что сделает SMART Disable Attribute Autosave – запретит сохранять данные SMART или как?

ИМХО - мониторирование и сохранение данных SMART работы винта ведутся постоянно (если SMART Enable,конечно) винтом. Через определённые промежутки времени(зависит от производителя) на основании этих данных вычисляются “свежие” зачения атрибутов
и автоматически заносятся в энергонезависимую память.Если введена хостом команда SMART DISABLE Attribut Autosave ,то мониторироваться и сохраняться данные контроллером винта всё равно будут( с возможной потерей информации – т.е.новая может вытеснить старую,где могли быть ошибки)но не будут пересчитываться значения атрибутов и сохраняться в том
месте,откуда их можно прочитать пользователю.
Если я правильно понимаю,то напрашивается вывод о том ,что значения атрибутов, видимых различными программами,могут не отображать истинного положения дел даже при задании опции SMART Enable в BIOS-e (если по какой то причине хост выдаст команду винту на запрещение атосохранения атрибутов SMART).И какой программой
можно посмотреть,введена эта команда или нет? А команда эта будет сохранена(Dis/En) устройством при включении-выключении питания(если я правильно перевёл её описание в ATA). В этом же описании указывается правда ,что запрещение этой особенности не препятствует устройству сохранять значения атрибутов в эн.независимую память в процессе выполнения некоторых других обычных операций,таких как включение питания и выключение или выполнение операций восстановления ошибок.(Как то всё весьма туманно). Хотя, возможно, при задании в BIOS опции SMART Enable автоматически разрешается автосохранение атрибутов(но кто это знает наверняка).
Правильно или нет,Ув.Гуру я понимаю назначение этой команды?

Помогите пожалуйста разобраться,если не трудно (хотя бы с некоторыми вопросами).

С Ув. Геннадий.